2017年1月26日(木)10時より、掲題の無料WEBセミナーを開催します。所要1時間程度のミニセミナーになりますが、しっかりと勘所を押えていきます。いま雑音測定が必要な理由は？測定方法は？気を付けるベキ点は何? など、基本的な疑問にお答えします。

線幅測定をご存知の方、狭線幅のレーザ開発に携わっている方、PAM4の開発に関わる方へお勧めのセミナーになっておりますので、是非ご参加ください。

※受講には事前申込が必要です。詳しはコチラのパンフレットをご確認ください。

12/17(木)～18(金)に静岡県三島市で行われる「第29回 光通信システムシン

ポジウム」に光雑音アナライザ(ONA)とRIN測定システムの動態展示を行い

ます。

実際の測定の様子と共に、下記のご紹介を致します。

皆様のご来場をお待ちしております

今月 12/7 (月) 14:00より「通信・センシング用レーザーの雑音測定」に関する無料のWEBセミナーを開催します。45分という短い時間ではございますが、LD開発や評価に関わる技術者の方へ最新技術紹介した後、その場で質問にお答え致します。

＜参加方法＞
当WEBセミナーはキーサイト・テクノロジー様の「ライブウェブセミナー」として提供されるため、下記URLからお申し込みが必要になります。

www.keysight.co.jp/find/webseminar-live

トップ画面から少し下がった「予定されているライブウェブセミナー」一覧へ移動
　　→「通信・センシング用レーザーの雑音測定」を選択し、申し込み画面へお進みください。

詳しくはコチラのパンフレットをお読みください。

来る4/8(水)～10(金)まで、お台場・東京ビッグサイトで開催されるFOE2015にてONA(光雑音アナライザ)システムとRIN測定システムのデモ機を展示致します。

ONAシステムでは、開発のみならず製造でもお使い戴くための新機能・高速(1秒)測定モードを、RIN測定システムでは新たに追加された測定帯域40GHzのシリーズを紹介します。是非ご覧ください。

Keysight社のブースにてお待ちしております。

日本からOFCに向かわれる方へお知らせです。

来る3月24日～26日まで、米国ロサンゼルスで開催されるOFC2015にONAシステムとRIN測定システムのデモ機を展示します。ONAは開発のみならず製造での使用を考慮し高速測定モードが追加されました。RIN測定システムは従来の帯域20GHzから40GHzに測定帯域が拡張されました。

今年も現地代理店の協力を得て、705番 Ogmentum社のブースにて測定の様子や操作方法などをご覧戴けます。

是非、お立ち寄りください。

12/11(木)～12(金)に静岡県三島市で行われる「第28回 光通信シンポジウム」に

光雑音アナライザ(ONA)とRIN測定システムを出展致します。　

それぞれ次のアップデートがございますので、是非会場にてご覧ください。

皆様のご来場をお待ちしております

　今回、新製品の中国初出展、及び新製品技術発表会では、

非常に多くのお客様にご覧いただけ、大変好評を博しました。

　特にテレビをはじめとする現地メディアによる取材を受ける

機会があり、大変注目されたイベントとなりました。