「もはや避けては通れない、レーザの雑音測定の勘所」

2016年12月15日 木曜日

2017年1月26日(木)10時より、掲題の無料WEBセミナーを開催します。所要1時間程度のミニセミナーになりますが、しっかりと勘所を押えていきます。いま雑音測定が必要な理由は?測定方法は?気を付けるベキ点は何? など、基本的な疑問にお答えします。


線幅測定をご存知の方、狭線幅のレーザ開発に携わっている方、PAM4の開発に関わる方へお勧めのセミナーになっておりますので、是非ご参加ください。

※受講には事前申込が必要です。詳しはコチラのパンフレットをご確認ください。

第21回 光エレクトロニクス・光通信国際会議 2016 に出展

2016年06月08日 水曜日

7月に朱鷺メッセ(新潟コンベンションセンター)にて開催される「第21回 OECC / PS 2016」に出展いたします。弊社の展示は会期中の7/3-5となります。A0010A RIN測定システム及び A0040A 光雑音アナライザを展示致しますので、是非お立ち寄りください。展示会場入り口右脇のブースB33でお待ちしております。

第29回 光通信システムシンポジウムにONA/RINを出展

2015年12月07日 月曜日
 第29回 OCSにてシステムの動態展示を致します。

 

12/17(木)~18(金)に静岡県三島市で行われる「第29回 光通信システムシン

ポジウム」に光雑音アナライザ(ONA)とRIN測定システムの動態展示を行い

ます。

実際の測定の様子と共に、下記のご紹介を致します。

 A0010A RIN測定システム
 測定帯域26.5GHzモデルをラインナップに追加

 

 A0040A 光雑音アナライザ
 白色雑音を1秒未満で測定するハイスピードモードの搭載

皆様のご来場をお待ちしております

雑音測定セミナーの ご案内

2015年11月06日 金曜日

今月 12/7 (月) 14:00より「通信・センシング用レーザーの雑音測定」に関する無料のWEBセミナーを開催します。45分という短い時間ではございますが、LD開発や評価に関わる技術者の方へ最新技術紹介した後、その場で質問にお答え致します。

<参加方法>
当WEBセミナーはキーサイト・テクノロジー様の「ライブウェブセミナー」として提供されるため、下記URLからお申し込みが必要になります。

www.keysight.co.jp/find/webseminar-live

トップ画面から少し下がった「予定されているライブウェブセミナー」一覧へ移動
  →「通信・センシング用レーザーの雑音測定」を選択し、申し込み画面へお進みください。

詳しくはコチラのパンフレットをお読みください。

FOE2015にONAとRIN測定システムを出展します

2015年04月01日 水曜日

FOE2015 logo Keysight logo

来る4/8(水)~10(金)まで、お台場・東京ビッグサイトで開催されるFOE2015にてONA(光雑音アナライザ)システムRIN測定システムのデモ機を展示致します。

ONAシステムでは、開発のみならず製造でもお使い戴くための新機能・高速(1秒)測定モードを、RIN測定システムでは新たに追加された測定帯域40GHzのシリーズを紹介します。是非ご覧ください。


Keysight社のブースにてお待ちしております。

OFC2015に光雑音アナライザ(ONA)を出展します

2015年03月11日 水曜日

日本からOFCに向かわれる方へお知らせです。

来る3月24日~26日まで、米国ロサンゼルスで開催されるOFC2015にONAシステムとRIN測定システムのデモ機を展示します。ONAは開発のみならず製造での使用を考慮し高速測定モードが追加されました。RIN測定システムは従来の帯域20GHzから40GHzに測定帯域が拡張されました。

今年も現地代理店の協力を得て、705番 Ogmentum社のブースにて測定の様子や操作方法などをご覧戴けます。


是非、お立ち寄りください。

OFC logo

Ogmentum logo

US向けOnlineセミナーの視聴が可能に

2015年02月05日 木曜日
http://www.keysight.com/upload/cmc_upload/All/29January2015WebcastSlides.pdf

2015年1月29日(US現地時間)にRIN、LineWidth及びONAのパラメータに関するウェブセミナーを行いました。

USのディストリビューターとキーサイトテクノロジー社の協力を経て、弊社製品に興味を持つUSのお客様へ基本的な技術説明をさせて戴きました。US限定のイベントであった為、日本のお客様へのアナウンスを差し上げてはおりませんでしたが、当日のセミナーをダウンロードできる様になりましたので、ご案内致します。

弊社英語ページにリンクを貼りましたので、コチラからお入りください。

第28回 光通信システムシンポジウムにONA/RINを出展

2014年11月26日 水曜日
 第28回光通信システムシンポジウムにて新機能を紹介

 

12/11(木)~12(金)に静岡県三島市で行われる「第28回 光通信シンポジウム」に

光雑音アナライザ(ONA)とRIN測定システムを出展致します。 

それぞれ次のアップデートがございますので、是非会場にてご覧ください。

 A0010A RIN測定システム
 測定帯域26.5GHzモデルをラインナップに追加

 

 A0040A 光雑音アナライザ
 白色雑音を1秒未満で測定するハイスピードモードの搭載

皆様のご来場をお待ちしております

中国光谷”OVC EXPO”デビュー!『大成功を収める』

2014年11月10日 月曜日

第11回“中国光谷”国際光電子博覧会の結果ご報告

 今回、新製品の中国初出展、及び新製品技術発表会では、

非常に多くのお客様にご覧いただけ、大変好評を博しました。

 特にテレビをはじめとする現地メディアによる取材を受ける

機会があり、大変注目されたイベントとなりました。



■ 展示ブース sycatus OVC booth
■ 新製品技術発表後のブース sycatus OVC booth


■ 新製品技術発表の動画
注意:初めの10秒に企業CMが流れます

発表資料(英語版)はコチラ


■ 現地メディア(鳳凰網)の記事                    Interview at OVC EXPO2014

第11回“中国光谷”国際光電子博覧会に出展

2014年10月15日 水曜日

2014年11月6~8日中国武漢国際博覧センターにて開催される第11回“中国光谷”国際光電子博覧会に出展します。

今回は電計貿易(上海)有限公司(日本電計現地法人)様との共同で、100G/400Gのデジタル・コヒーレントおよびPAM4向け測定システムとして、従来製品の性能を高めた下記2システムを展示します。

A0010A RIN測定システム
従来の測定帯域(40GHz)に26.5GHz版を追加し、PAM4向けの広変調レーザ評価に対応。

A0040A 光雑音アナライザ
光周波数雑音スペクトラムを僅か0.5秒で取得する高速測定モードを追加し、デジタル・コヒーレント向け光源の測定効率を劇的に向上。

国際光電子博覧会にご来場の際は、弊社展示コーナーへ是非お立ち寄りください。



OCS_Symposium
第28回光通信システムシンポジウムに出展
2014年12月11~12日、静岡県三島市 東レ総合研修センタで開催される、電子情報通信学会 光通信システム(OCS)研究会主催の第28回光通信システムシンポジウムにて、A0010A RIN測定システムおよびA0040A光雑音アナライザを展示いたします。