光通信システム研究会(OCS)にて「レーザのスペクトラム純度の評価に関する研究発表」のお知らせ

2014年07月07日 月曜日
2014年7月31日(木)の午前中、東京工業大学 大岡山キャンパスにて開催される「光通信システム研究会」にて「レーザのスペクトラム純度の評価に関する考察 ~ 線幅測定と光周波数雑音スペクトラムの関係について ~」という題名の発表を致します。

内容はスペクトラム純度の評価法として線幅測定光周波数雑音スペトラム測定を比較し、後者の有用性について「A0040A 光雑音アナライザ」の測定結果を交えて説明します。

また、同日午後より開催される「OCS Summer School 2014」の製品紹介スペースにて「A0040A 光雑音アナライザ」の製品説明を行います。製品のご紹介や製品に対するご質問を、こちらのスペースにて対応させて頂きます。

沢山のご来場、心よりお待ち申しあげます。



AMF2014への来場のお礼

2014年06月23日 月曜日
AMF Logo2014年6月18-19日にパシフィコ横浜アネックスホールにて開催された、Agilent Measurement Forum 2014への出展が無事終了致しました。 開催期間中、多くのお客様に弊社のブースへお立ち寄りいただきまいした事、また四方が行いましたセミナーに多数ご参加戴きました事、心より感謝申しあげます。

AMF2014にて光周波数雑音スペクトル測定のミニセミナ開催

2014年05月22日 木曜日
AMF Logo2014年6月18日(水)、19日(木)にパシフィコ横浜アネックスホールにて開催される、Agilent Measurement Forum 2014(参加費無料、事前登録制)におきまして、代表取締役の四方が、「線幅を超える?光周波数雑音スペクトル測定」というテーマのミニセミナを開催いたします(6月19日(木) 14:30 ~ 14:45)。セミナでは、光周波数雑音スペクトル測定の最新情報について、分かりやすくご説明いたします。また、展示コーナーでは、A0040A光雑音アナライザによる、レーザ光源の光周波数雑音スペクトル測定を体験いただけます。

皆様のご来場をお待ちしております。

FOE2014への来場のお礼

2014年05月21日 水曜日

4月16日(水)から東京国際展示場で3日間開催された光通信技術展(FOE)の出展が無事終了いたしました。
期間中、多くのお客様に弊社のブースへお立ち寄りいただきまいした事、心より感謝申しあげます。


FOE 2014にA0040A光雑音アナライザを出展

2014年04月01日 火曜日


4月16日(水)から東京国際展示場で3日間開催される光通信技術展(FOE)に出展いたします。

出展場所はアジレント・テクノロジーのブース内(25-40)になります。アジレント・テクノロジー様の主要展示品の1つとしてA0040A光雑音アナライザを展示し測定デモを行います。

ご興味をお持ちのお客様は是非アジレントブースにお立ち寄り戴き、実際のシステムをご覧ください。

OFC2014に製品を出展しました

2014年03月27日 木曜日
FOC2014_ONA
OFC2014_ONA2014年3月11日(火)~13日(木)、サンフランシスコにて開催された、
「OFC 2014」(The Optical Fiber Communication Conference and Exposition)に
RIN測定器A0010Aと光雑音アナライザ(ONA)A0040Aを出展いたしました。
多くのお客様にお越しいただき、誠にありがとうございました。

次回、国内での出展予定は以下の通りです。

展示会名:FOE(光通信技術展)
期   間:4月16日[水]~18日[金]
場   所:ビックサイト(Agilentブース)

皆様のお越しをお待ちしております。

第27回 光通信システムシンポジウムにおけるA0040A光雑音アナライザ出展のお知らせ

2013年10月28日 月曜日
12/12(木)~13(金)に三島で開催される、“第27回 光通信システムシンポジウム”(東レ総合研修センター、電子情報通信学会 光通信システム研究会 (OCS) 主催)にて、A0040A 光雑音アナライザを展示いたします。

光雑音アナライザはレーザ光源の光周波数純度を評価する新しい測定システムです。光周波数雑音をパワースペクトラムとして測定し、抽出した白色ノイズ成分による等価線幅(ローレンツ線幅)として500Hz以下の線幅測定が可能です。デジタル・コヒーレント通信方式の発展に伴い、要求が高まっている光周波数雑音の評価に最適なソリューションです。

光通信システムシンポジウムにお越しの際は、是非当社ブースにお立ち寄りいただきたく、よろしくお願い申し上げます。

光ファイバ無線(RoF)向け展示ブース(レーダー&マイクロウェーブ・テスト・セミナ2013)へご来場のお礼

2013年10月28日 月曜日
10/18(金)に秋葉原コンベンションホールにて開催された、“レーダー&マイクロウェーブ・テスト・セミナ2013”(アジレント・テクノロジー主催)にて、「光ファイバ無線(Radio on Fiber)向け測定ソリューション」を展示いたしました。
多くのお客様に展示ブースへ足をお運び戴き、心より感謝申し上げます。

展示では5GHz帯IEEE802.11ac、およびマルチキャリア光信号に対する光変調度測定を実演致しました。

今後、光によるブロードバンド性と無線によるポータビリティとを活かした光・無線アクセスの融合サービスが更に注目されるものと考えられます。
「光ファイバ無線(Radio on Fiber)向け測定ソリューション」にご興味がございましたらホームページの問合せ、或いはお電話(042-660-0881)にてご連絡戴ければ幸いです。

光雑音アナライザ&RIN測定システム デモ提供

2013年07月30日 火曜日
SYCATUSでは、A0040光雑音アナライザ(新製品)及びA0010RIN測定システムのデモンストレーションを提供しております。

デモンストレーションでは、システムの機能・性能・操作性の確認だけではなく、お客様にご用意いただいたデバイスを実測し、デバイス特性の設定パラメタ依存性等の詳細なデータを取得していただけます。デモンストレーションを通じ、新たな技術ポイントの発見にお役立ていただくとともに、弊社のシステムの高い測定確度及び再現性を実感いただければと思います。

デモンストレーションのご要望につきましては、「お問い合わせ」からご連絡いただきますようお願い申し上げます。

光雑音アナライザのAgilent Measurement Forum 2013 出展の報告

2013年07月30日 火曜日
前回トピックスでご案内の通り、2013年7月9(火)~10(水)パシフィコ横浜で開催されましたAgilent Measurement Forum 2013に、光雑音アナライザを展示いたしました。
期間中、ご多忙にもかからわず多くの方に会場へ足をお運び戴き、また弊社のシステムにご興味をいただき、誠にありがとうございました。

今後、ご要望に応じて光雑音アナライザのデモンストレーションを実施させて戴きますので、ご興味の御座いますお客様は「お問い合わせ」からご連絡くいただきますようお願い申し上げます。