2014年7月31日(木)の午前中、東京工業大学 大岡山キャンパスにて開催される「光通信システム研究会」にて「レーザのスペクトラム純度の評価に関する考察　～ 線幅測定と光周波数雑音スペクトラムの関係について ～」という題名の発表を致します。

内容はスペクトラム純度の評価法として線幅測定と光周波数雑音スペトラム測定を比較し、後者の有用性について「A0040A 光雑音アナライザ」の測定結果を交えて説明します。

また、同日午後より開催される「OCS Summer School 2014」の製品紹介スペースにて「A0040A 光雑音アナライザ」の製品説明を行います。製品のご紹介や製品に対するご質問を、こちらのスペースにて対応させて頂きます。

沢山のご来場、心よりお待ち申しあげます。