 2014年6月18日（水）、19日（木）にパシフィコ横浜アネックスホールにて開催される、Agilent Measurement Forum 2014（参加費無料、事前登録制）におきまして、代表取締役の四方が、「線幅を超える？光周波数雑音スペクトル測定」というテーマのミニセミナを開催いたします（6月19日(木) 14:30 ～ 14:45）。セミナでは、光周波数雑音スペクトル測定の最新情報について、分かりやすくご説明いたします。また、展示コーナーでは、A0040A光雑音アナライザによる、レーザ光源の光周波数雑音スペクトル測定を体験いただけます。皆様のご来場をお待ちしております。 |
