FOE2015にONAとRIN測定システムを出展します

2015年04月01日 水曜日

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来る4/8(水)~10(金)まで、お台場・東京ビッグサイトで開催されるFOE2015にてONA(光雑音アナライザ)システムRIN測定システムのデモ機を展示致します。

ONAシステムでは、開発のみならず製造でもお使い戴くための新機能・高速(1秒)測定モードを、RIN測定システムでは新たに追加された測定帯域40GHzのシリーズを紹介します。是非ご覧ください。


Keysight社のブースにてお待ちしております。