光変調度測定システム

  • 特長
    アジレントN437xB光コンポーネントアナライザまたはN4371A RIN測定システムに対するAdd‐Onとして、光変調度を測定するシステムを提供します。光コンポーネントアナライザを用いたシステムでは、所定のDUT入力電力に対する光変調度の周波数特性を把握することが可能です。 RIN測定システムを用いたシステムでは、複数のキャリア信号に対しDUTが出力する光信号のそれぞれの光変調度を一括して測定することが可能です。
  • 利点
    弊社独自の手法により、 光コンポーネントアナライザあるいはRIN測定システムの持つ不確かさを低減し、正確な光変調度測定を実現しています。特にRIN測定システムを用いたシステムでは、複数のキャリアの光変調度を一括で測定できるため、光CATVなどのアナログ光伝送アプリケーションでは、作業効率を著しく向上することができます。

10GE‐PON向けバースト評価システム

  • 特長
    TDMA対応のビットエラーレートテスタと、弊社独自の10Gbpsバースト光トランスミッタを組み合わせることにより、様々なバースト長およびガードタイム(バースト信号間隔)の条件で光信号を出力することができます。ビットエラーレートテスタの出力するパタンブロックに対し、1つあるいは複数ブロックに対してエラーレート測定ゲートを設定することにより、10GE‐PONを想定した バーストビットエラーレート測定を行うことが可能になります
  • 利点
    このシステムを用いることにより、様々なバースト長およびガードタイムの状況下におけるOLTの物理試験が可能になります。さらに、複数台のバースト光トランスミッタを用いることにより、光パワーの異なる光バースト信号に対するOLTの応答を確認することができます。これらの測定により、OLTの性能・品質を高めることができます。

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